Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Об издании
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Библиографическая запись
Горлов М.И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М.И., Сергеев В.А.. — Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. — 471 c. — ISBN 978-5-9795-2000-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/106117.html (дата обращения: 04.12.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Абрашкина Е.Д., Агирбов Ю.И., Андреев О.П., Ариничев В.Н., Ашмарина Т.И., Бритик Э.В., Горбачев М.И., Грачев А.Б., Дрямов С.Ю., Евграфова Л.В., Егоров А.А., Ивакина Е.Г., Кабдин Н.Е., Каратаева О.Г.,...
(Ай Пи Ар Медиа)
Ибраев А.С., Сабырова А.С., Бектасов Б.У.
(EDP Hub (Идипи Хаб), Профобразование)
Абрамов И.В., Абрамов А.И., Никитин Ю.Р., Трефилов С.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Резникова Е.В.
(Южно-Уральский государственный гуманитарно-педагогический университет)
Моисеева Т.Ф.
(Российский государственный университет правосудия)
Ахметгалиева В.Р., Галяутдинова Л.Р., Галяутдинов М.И.
(Российский государственный университет правосудия)
Кузин Г.А.
(Новосибирский государственный технический университет)
Колемаев В.А., Гатауллин Т.М., Заичкин Н.И., Водянова В.В., Малыхин В.И., Бодров А.П., Ершов А.Т., Карандаев И.С., Константинова Л.А., Королев И.В., Кутернин М.И., Перегудов С.А., Прохоров Ю.Г., Соло...
(ЮНИТИ-ДАНА)