Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Издательство:
Ульяновский государственный технический университет
Авторы:
Горлов М.И., Сергеев В.А.
Сведения об ответственности:
ред. Горлова М.И.
Год издания:
2020
ISBN:
978-5-9795-2000-1
Тип издания:
монография
DOI:

Об издании

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Библиографическая запись

Горлов М.И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М.И., Сергеев В.А.. — Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. — 471 c. — ISBN 978-5-9795-2000-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/106117.html (дата обращения: 04.12.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия