Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Об издании
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Библиографическая запись
Горлов, М. И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / М. И. Горлов, В. А. Сергеев ; под редакцией М. И. Горлова. — 3-е изд. — Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. — 471 c. — ISBN 978-5-9795-2000-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/106117.html (дата обращения: 04.11.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Глебов В.В., Кангин М.В., Кангин Е.М., Щеглетов К.А., Кангин А.М.
(Ай Пи Ар Медиа)
Линева О.И., Колсанова А.В., Кияшко И.С.
(Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Миронов А.В., Садриева А.Н., Филатова Л.П.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Зима Т.М.
(Новосибирский государственный технический университет)
Аникеева А.Е., Елистратова И.Б.
(Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики)
Вавилов В.Д., Тимошенков С.П., Тимошенков А.С.
(Техносфера)
Малюков С.П., Саенко А.В., Клунникова Ю.В., Палий А.В.
(Издательство Южного федерального университета)
Достанко А.П., Аваков С.М., Агеев О.А., Батура М.П., Бордусов С.В., Голосов Д.А., Джуплин В.Н., Завадский С.М., Клим О.В., Ланин В.Л., Мадвейко С.И., Мельников С.Н., Петухов И.Б., Ретюхин Г.Е., Русец...
(Белорусская наука)
