Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения. Учебное пособие

Об издании

Соответствует содержанию рабочей программы дисциплины «Ядерно-физические методы в физике твердого тела» по направлению магистерской подготовки 16.04.01 «Техническая физика». Рассмотрены физические принципы проведения структурных исследований материалов методами рассеяния синхротронного излучения. Главное внимание уделено основным структурным механизмам, определяющим физические свойства ряда материалов, в том числе молекулярных структур, сегнетоэлектрических пленок и кристаллов, а также базовым физическим принципам новых методов структурного эксперимента в электрическом поле и новым подходам к анализу больших объемов экспериментальной информации. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки магистров «Техническая физика», а также для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», для аспирантов и специалистов в области экспериментальной технической физики. Может использоваться в системе повышения квалификации, в учреждениях дополнительного профессионального образования.

Библиографическая запись

Чернышов Д.Ю. Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения : учебное пособие / Чернышов Д.Ю., Вахрушев С.Б., Филимонов А.В.. — Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2020. — 111 c. — ISBN 978-5-7422-7052-2. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/116153.html (дата обращения: 20.04.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей