Современные методы исследования наноструктур: метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Учебное пособие
Об издании
Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием «Современные методы исследования наноструктур». Цель данного пособия – дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодействия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл – диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов – метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника. Содержание пособия соответствует учебной программе курса «Наноматериалы». Предназначено для самостоятельной работы студентов магистратуры и аспирантов, обучающихся по направлениям 150100 (Металлургия) и 210602 (Электроника и наноэлектроника).
Библиографическая запись
Валянский, С. И. Современные методы исследования наноструктур: метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учебное пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими ; под редакцией Д. Е. Капуткина. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2011. — 173 c. — ISBN 978-5-87623-460-5. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/117324.html (дата обращения: 23.07.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Глебов В.В., Кангин М.В., Кангин Е.М., Щеглетов К.А., Кангин А.М.
(Ай Пи Ар Медиа)
Линева О.И., Колсанова А.В., Кияшко И.С.
(Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Миронов А.В., Садриева А.Н., Филатова Л.П.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Кондратова М.
(Альпина нон-фикшн)
Михайлов А.А., Ботыгин В.И., Гинко В.И., Кисляков П.А., Смирнов В.А.
(Инфра-Инженерия)
Новикова А.А.
(Согласие)
Жбанков В.А., Табаков А.В.
(Российская таможенная академия)
Изволов Н.А., Каптерев С.К., Караваев Д.Л., Малышев В.С., Николаева-Чинарова А.П., Прожико Г.С., Русинова Е.А.
(Всероссийский государственный университет кинематографии имени С.А. Герасимова (ВГИК))
(Всероссийский государственный университет кинематографии имени С.А. Герасимова (ВГИК))
На конкретных примерах рассмотрим:
На конкретных примерах рассмотрим: