Фрактография, металлография и свойства титановых сплавов и диффузионно-сварных соединений. Монография
Об издании
Рассмотрены некоторые титановые тонкостенные слоистые конструкции, применяемые в аэрокосмической технике. Приведены оригинальные методики фрактографических и металлографических исследований физико-химического состояния поверхностей, микроструктуры и топографии разрушения титановых сплавов и диффузионно-сварных соединений. Приведены закономерности влияния микроструктуры титановых сплавов на их высокотемпературную ползучесть, механические свойства и топографию поверхностей разрушения. Выявлены фрактографические признаки и кинетические закономерности формирования продуктов взаимодействия титана с остаточными газами вакуумированного пространства в условиях высокотемпературного нагрева. Для инженеров, работающих в области сварки титана. Может быть полезно аспирантам и магистрантам.
Библиографическая запись
Пешков, В. В. Фрактография, металлография и свойства титановых сплавов и диффузионно-сварных соединений : монография / В. В. Пешков, А. Б. Булков, А. Б. Коломенский. — Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2022. — 328 c. — ISBN 978-5-9729-0780-9. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/123908.html (дата обращения: 19.09.2022). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Аминов Р.З., Егоров А.Н., Юрин В.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
Хентов В.Я., Семин Е.Г., Власов Ю.В., Гасанов В.М.
(ХИМИЗДАТ)
Бурмистрова Н.А., Кузнецова И.В., Хмелев С.С.
(Лаборатория знаний)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Михеев Г.М.
(Профобразование)
Черняева С.Н., Коробова Л.А., Толстова И.С.
(Воронежский государственный университет инженерных технологий)
(Новосибирский государственный архитектурно-строительный университет (Сибстрин), ЭБС АСВ)
(Профобразование)
Широбокова О.Е.
(Брянский государственный аграрный университет)
Петров С.М.
(Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ)
(Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ)
Янушевская М.Н., Лариошина И.А.
(Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники)