Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом. Методические указания к лабораторной работе О-7 по курсу общей физики

Издательство:
Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана
Авторы:
Вишнякова С.М., Вишняков В.И.
Год издания:
2014
ISBN:
978-5-7038-3832-7
Тип издания:
учебно-методическое пособие
DOI:

Об издании

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана.

Библиографическая запись

Вишнякова, С. М. Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : методические указания к лабораторной работе О-7 по курсу общей физики / С. М. Вишнякова, В. И. Вишняков. — Москва : Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, 2014. — 32 c. — ISBN 978-5-7038-3832-7. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/136021.html (дата обращения: 01.02.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия