Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии. Учебно-методическое пособие
Об издании
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурье- спектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
Библиографическая запись
Величко, А. А. Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии : учебно-методическое пособие / А. А. Величко, Б. Б. Кольцов. — Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2012. — 28 c. — ISBN 978-5-7782-1924-3. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/45125.html (дата обращения: 04.04.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Михин М.Н., Смирнов В.Е., Белова Т.Б.
(Ай Пи Ар Медиа)
Ферро А., Николи Л.
(Альпина ПРО)
Сальникова А.С., Елистраткин М.Ю., Лесовик В.С.
(Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова, ЭБС АСВ)
Богданова О.В., Окмянская В.М.
(Инфра-Инженерия)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Иванова Ю.А., Мишенева Ю.И., Нестеренко В.Г., Сайтимова Т.Н.
(Профобразование)
Кязимов К.Г.
(Вузовское образование)
На конкретных примерах рассмотрим:
На конкретных примерах рассмотрим: