Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов. Практикум
Об издании
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».
Библиографическая запись
Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / В.Ф. Барабанов [и др.].. — Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. — 75 c. — ISBN 978-5-7731-0778-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/93252.html (дата обращения: 20.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
.jpg)
Петрова Л.А., Малахова Ю.В.
(Профобразование)
Макарова Е.А., Анисимов А.Ю., Трубин А.Е., Буланова Т.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
Богун В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
(Ай Пи Ар Медиа)
Леонов С.А., Попов Ю.А.
(Санкт-Петербургский государственный университет промышленных технологий и дизайна)
Борисова Л.Р., Светлова Н.И., Седых И.Ю.
(Прометей)
Лапидус А.А., Ларионов А.Н., Абрамов И.Л., Забелина О.Б.
(МИСИ-МГСУ, ЭБС АСВ)
Олейник П.П., Бродский В.И.
(МИСИ-МГСУ, ЭБС АСВ)
