Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов. Практикум
Об издании
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».
Библиографическая запись
Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / В.Ф. Барабанов [и др.].. — Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. — 75 c. — ISBN 978-5-7731-0778-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/93252.html (дата обращения: 26.03.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
.jpg)
Петрова Л.А., Малахова Ю.В.
(Профобразование)
Макарова Е.А., Анисимов А.Ю., Трубин А.Е., Буланова Т.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Окороков А.Н.
(Медицинская литература, Профобразование)
.jpg)
Бабешко Е.А., Барсукова А.Д., Иванова З.И., Мудрак С.А., Неганов В.В., Парусимова Я.В.
(МИСИ-МГСУ, ЭБС АСВ)
Плёнкин А.П., Шулика М.Г., Михайлова В.Д.
(Издательство Южного федерального университета)
