Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов. Практикум
Об издании
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».
Библиографическая запись
Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / В.Ф. Барабанов [и др.].. — Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. — 75 c. — ISBN 978-5-7731-0778-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/93252.html (дата обращения: 28.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
.jpg)
Петрова Л.А., Малахова Ю.В.
(Профобразование)
Макарова Е.А., Анисимов А.Ю., Трубин А.Е., Буланова Т.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
Богун В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Максимов Г.В., Василенко В.Н., Клименко А.И., Максимов А.Г., Ленкова Н.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Ефимова А.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Ефимова А.В.
(Профобразование)
Белова С.А., Давыдова Т.Е., Иванова Н.П., Лойко О.А., Тимофеева О.В., Фейзрахманова Н.М., Черноморец Т.В.
(Профобразование)
