Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений. Учебное пособие

Об издании

В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.

Библиографическая запись

Иванов А.Н. Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений : учебное пособие / Иванов А.Н., Поляков А.М.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. — 79 c. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/98052.html (дата обращения: 08.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей