Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур. Учебное пособие

Издательство:
Издательский Дом МИСиС
Авторы:
Бублик В.Т., Щербачев К.Д.
Год издания:
2001
ISSN:
2227-8397
Тип издания:
учебное пособие
DOI:

Об издании

Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.

Библиографическая запись

Бублик В.Т. Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : учебное пособие / Бублик В.Т., Щербачев К.Д.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2001. — 100 c. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/98065.html (дата обращения: 26.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия