Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники. Учебное пособие

Об издании

Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства полупроводников; деградация кремниевых приборов и микросхем вследствие радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений космического пространства; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на деградацию изделий оптоэлектроники; особенности испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства. Предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника», а также студентов, обучающихся по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». Будет полезно специалистам, работающим в области конструирования изделий полупроводниковой электроники и технологии их изготовления, а также обеспечения надежности и радиационной стойкости комплектующих элементов и аппаратуры.

Библиографическая запись

Таперо, К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники : учебное пособие / К. И. Таперо, С. И. Диденко. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 349 c. — ISBN 978-5-87623-661-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/98096.html (дата обращения: 10.09.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей