Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов. Учебное пособие

Об издании

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

Библиографическая запись

Векилова, Г. В. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учебное пособие / Г. В. Векилова, А. Н. Иванов, Ю. Д. Ягодкин. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. — 145 c. — ISBN 978-5-87623-228-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/98165.html (дата обращения: 03.11.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей