Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Авторы: Горлов М.И., Сергеев В.А.

Издательство: Ульяновский государственный технический университет

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.