Диагностика полупроводниковых источников излучения

Авторы: Сергеев В.А., Фролов И.В., Радаев О.А.

Издательство: Ульяновский государственный технический университет

В пособии рассмотрены физические основы и принципы работы полупроводниковых источников излучения, их основные параметры и характеристики, определены требования к их качеству и надежности. Описаны наиболее распространенные и эффективные методы и средства неразрушающей диагностики светодиодов и полупроводниковых лазеров. Приведены результаты апробации описанных методов и средств на серийных изделиях. Пособие предназначено для студентов и аспирантов высших учебных заведений специальностей и направлений «Радиотехника» и «Проектирование и технология радиоэлектронных средств», специализирующихся в области опто- и наноэлектроники, а также может быть полезным специалистам научно-производственных предприятий и научных организаций.