Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов

Авторы: Пахаруков Ю.В., Шабиев Ф.К., Сафаргалиев Р.Ф.

Издательство: Тюменский индустриальный университет

Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.