Основы спектроскопических методов исследования

Авторы: Тарала В.А., Вакалов Д.С., Амбарцумов М.Г., Хорошилова С.Э., Испирян А.Г.

Издательство: Северо-Кавказский федеральный университет

Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины. В практикуме представлены 4 лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, списки рекомендуемой литературы. Предназначено для бакалавров, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, по направленностям (профилям) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы».