Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Авторы: Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П.Р., Борисевич А., Карунту Д., Карунту Г., Чишолм М.Ф., Кэмпбэлл Л.Э., Фрей М.Д., Пу Ксиан Га, Джианнуцци А.Л., Гупта Р., Джой Д., Ли Дж., Ли Ф., Лиу Дж., Лиу К., Лупини А.Р., Питер Экс. Ма, Мейтланд Т., Нэйбити Дж., О’Коннор Ч.Дж., Оксли М.П., Пэнг Ю., Пенникук С., Ричард Сталлкап II, Ситцмэн С., К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, Варела М., Уанг П., Уанг К., Уанг Ж.Л., Уэй Г., Уайли Дж.Б., Жу У., Жу М.

Издательство: Лаборатория знаний

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.