Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа

Авторы: Малышев К.В., Башков В.М., Мешков С.А.

Издательство: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.