Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии

Авторы: Анашина О.Д., Андрюшечкин С.Е., Аневский С.И., Бражников В.В., Булыгин Ф.В., Головань Л.А., Горшкова Т.Б., Гусев А.С., Демин А.В., Заботнов С.В., Золотаревский С.Ю., Золотаревский Ю.М., Иванов В.С., Ильин А.П., Качак В.В., Кашкаров П.К., Клековкин И.В., Кононогов С.В., Коршунов А.В., Крутиков В.Н., Котюк А.Ф., Лахов В.М., Левин А.Д., Левин Г.Г., Лысенко В.Г., Лясковский В.Л., Мазуренко С.Н., Минаева О.А., Минаев Р.В., Морозова С.П., Новиков Н.Ю., Окрепилов В.В., Панкина Г.В., Панов В.И., Рукин Е.М., Савченко А.Г., Саприцкий В.И., Тодуа П.А., Толбанова Л.О., Федянин А.А., Хлевной Б.Б., Широков С.С., Шувалов Г.В., Элькин Г.И.

Издательство: Логос

Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нанометрологии.