Методы и средства аналитического контроля материалов. Атомно-эмиссионный спектральный анализ

Авторы: Скорская О.Л., Филичкина В.А.

Издательство: Издательский Дом МИСиС

Изложены основы метода атомно-эмиссионного спектрального анализа веществ и материалов. Дано описание метода, его возможностей и характерных особенностей, применения для контроля и анализа веществ, в том числе материалов металлургического производства. Предназначено для усвоения теоретических основ методов аналитического контроля и анализа веществ студентами, изучающими дисциплину «Методы и средства аналитического контроля материалов», обучающимися по направлениям подготовки бакалавров 221700.62 (27.03.01) «Стандартизация и метрология» и 221400.62 (27.03.02) «Управление качеством».