Оптические методы исследований наноматериалов и наносистем

Авторы: Тарасова Н.В.

Издательство: Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ

Методические указания содержат теоретические сведения о физических основах оптического метода контроля структуры материалов, в том числе микроскопии высокого разрешения - сканирующей ближнепольной и конфокальной оптической микроскопии, правила проведения металлографического анализа черных и цветных сплавов, порядок выполнения и оформления результатов лабораторных работ. Предназначены для студентов направления подготовки «Наноинженерия».