Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов

Авторы: Барабанов В.Ф., Тюрин С.В., Гребенникова Н.И., Акинина Ю.С.

Издательство: Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».