Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе. Учебное пособие
Об издании
Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Библиографическая запись
Кузнецова Ю.В. Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю.В.. — Тверь : Тверской государственный университет, 2023. — 96 c. — ISBN 978-5-7609-1838-3. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/136330.html (дата обращения: 28.04.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Костюкова Н.И.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Фаронов А.Е.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Бодрова Е.В., Калинов В.В.
(Дашков и К)
Решетун А.
(Альпина Паблишер)
Носов В.И., Карболин В.А.
(Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики)
Губич Л.В., Муха Н.П., Протасеня Э.В.
(Белорусская наука)
Алборова М.Б., Бирюков А.В., Булва В.И., Василов Р.В., Гаева Т.Н., Глазьев С.Ю., Зиновьева Е.С., Зинченко А.В., Иванов В.В., Копылов С.М., Крутских А.В., Ларина Е.С., Лепский В.Е., Лобанов С.А., Мали...
(Аспект Пресс)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Перхуткин В.П., Перхуткина З.И., Овчарук Т.А., Недух Е.Н., Панюкова М.Л.
(Инфра-Инженерия)