Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе. Учебное пособие
Об издании
Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Библиографическая запись
Кузнецова Ю.В. Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю.В.. — Тверь : Тверской государственный университет, 2023. — 96 c. — ISBN 978-5-7609-1838-3. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/136330.html (дата обращения: 20.03.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Попов Е.Б.
(Ай Пи Ар Медиа)
Хрусталёв В.А., Юрин В.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
Хентов В.Я., Семин Е.Г., Власов Ю.В., Гасанов В.М.
(ХИМИЗДАТ)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Тополь Э.
(Альпина Паблишер)
Носенко Д.И., Золотарёв А.П., Уймин А.Г., Дегтярев С.С., Ефименко Т.И., Морозов И.М., Шальнев В.В.
(Профобразование)
Иванков А.Н., Иванкова Л.Н.
(Профобразование)