Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе. Учебное пособие
Об издании
Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Библиографическая запись
Кузнецова Ю.В. Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю.В.. — Тверь : Тверской государственный университет, 2023. — 96 c. — ISBN 978-5-7609-1838-3. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/136330.html (дата обращения: 17.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Максимов Г.В., Василенко В.Н., Клименко А.И., Максимов А.Г., Ленкова Н.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Богун В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Аникеев С.В., Найденков О.Н., Собурь С.В.
(ПожКнига)
Аникеев С.В., Найденков О.Н., Собурь С.В.
(ПожКнига)
Иванов В.А., Кузьмин С.В., Волынец И.Г., Михаленко С.В.
(Инфра-Инженерия)
Терехова С.А.
(Волгоградский государственный социально-педагогический университет, «Перемена»)
Синицына И.В., Боровко Л.В.
(Невинномысский государственный гуманитарно-технический институт)