Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе. Учебное пособие
Об издании
Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Библиографическая запись
Кузнецова Ю.В. Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю.В.. — Тверь : Тверской государственный университет, 2023. — 96 c. — ISBN 978-5-7609-1838-3. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/136330.html (дата обращения: 15.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Максимов Г.В., Василенко В.Н., Клименко А.И., Максимов А.Г., Ленкова Н.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Богун В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Чунтул А.В., Короткевич М.З., Самусенко А.Г., Павленко Н.С., Горбатовский В.Ф., Привалов В.В., Продин В.И., Рябинин В.А., Беломестнов В.А., Лапа В.В., Давыдов В.В., Иванов А.И., Новиков М.В., Липов Б...
(Когито-Центр)
Болатчиев К.Х., Ермакова Л.А., Пшеничная Н.Ю., Хроменкова Е.П., Хапаев Б.А.
(Северо-Кавказская государственная гуманитарно-технологическая академия)
Вадюшина Д.С., Панкратова С.Н.
(Вышэйшая школа)
Ильинских Н.Н., Чойнзонов Е.Л., Лебедев И.Н., Язиков Е.Г., Мельников А.А., Васильев С.А., Ильинских Е.Н.
(Томский политехнический университет)
Еремина Е.А., Рыжова О.Н.
(Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова)