Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов. Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»

Издательство:
Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана
Авторы:
Малышев К.В., Скороходов Е.А., Башков В.М.
Год издания:
2007
ISSN:
2227-8397
Тип издания:
учебно-методическое пособие
DOI:

Об издании

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.

Библиографическая запись

Малышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов : методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств» / К. В. Малышев, Е. А. Скороходов, В. М. Башков. — Москва : Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, 2007. — 44 c. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/31463.html (дата обращения: 06.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия