Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов. Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
Об издании
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Библиографическая запись
Малышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов : методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств» / К. В. Малышев, Е. А. Скороходов, В. М. Башков. — Москва : Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, 2007. — 44 c. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/31463.html (дата обращения: 06.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Плешивцев А.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Дружинина Е.Б., Протопопова Н.В., Дудакова В.Н.
(Ай Пи Ар Медиа)
Миронов А.В., Садриева А.Н., Филатова Л.П.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
Михайлова А.К., Зинченко Т.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Голубев С.С., Щербаков А.Г., Цивилева А.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
Терешко О.А.
(Инфра-Инженерия)
(Профобразование, Уральский федеральный университет)
Кокин С.Е., Дмитриев С.А.
(Профобразование, Уральский федеральный университет)
Виноградов В.А., Кошель А.С., Ларичев А.А., Александрова Е.В., Бабаева Ю.Г., Бабичев И.В., Гаджиева А.О., Головин А.Г., Кожевников О.А., Комлев Е.Ю., Мазаев В.Д., Масленникова С.В., Овчинников И.И., ...
(Ай Пи Ар Медиа)
Вантеев А.И.
(Инфра-Инженерия)