Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
Об издании
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Библиографическая запись
Малышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа : методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств» / К. В. Малышев, В. М. Башков, С. А. Мешков. — Москва : Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, 2007. — 42 c. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/31464.html (дата обращения: 06.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Плешивцев А.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Миронов А.В., Садриева А.Н., Филатова Л.П.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
Николаева Н.Н., Куликова М.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Николаева Н.Н., Куликова М.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Голубев С.С., Щербаков А.Г., Цивилева А.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
Терешко О.А.
(Инфра-Инженерия)
Ким К.К., Анисимов Г.Н., Чураков А.И.
(Профобразование)
Ватаев А.С., Давидчук Г.А., Лебедев А.М.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
(Профобразование, Уральский федеральный университет)
Кокин С.Е., Дмитриев С.А.
(Профобразование, Уральский федеральный университет)