Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия. Учебное пособие
Об издании
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
Библиографическая запись
Бублик В.Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия : учебное пособие / Бублик В.Т., Щербачев К.Д., Воронова М.И.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2016. — 84 c. — ISBN 978-5-87623-982-2. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/64174.html (дата обращения: 19.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Глебов В.В., Кангин М.В., Кангин Е.М., Щеглетов К.А., Кангин А.М.
(Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Миронов А.В., Садриева А.Н., Филатова Л.П.
(Ай Пи Ар Медиа)
Корниенко В.Т.
(Ай Пи Ар Медиа)
.jpg)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Титов С.В.
(Профобразование)
(Ай Пи Ар Медиа)
Бочкарева Н.А., Елизарова Н.В., Захарова Ю.Б., Коржов В.Ю., Хлистун Ю.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Сузи Р.А.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)