Нанометрология. Монография
Об издании
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям — поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Библиографическая запись
Сергеев, А. Г. Нанометрология : монография / А. Г. Сергеев. — Москва : Логос, 2012. — 416 c. — ISBN 978-5-98704-494-0. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/9122.html (дата обращения: 11.09.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Титов С.В.
(Профобразование)
(Ай Пи Ар Медиа)
Кротов К.С.
(Издательство Саратовской государственной юридической академии)
Ермина М.А., Ермин Д.А.
(Санкт-Петербургский государственный университет промышленных технологий и дизайна)
Басалова Г.В.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)