В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / В.В. Ожерельев [и др.].. — Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. — 108 c. — ISBN 978-5-7731-0987-7. — Текст : электронный // IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/118616.html (дата обращения: 30.06.2022). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
Издательство: Московский педагогический государственный университет
Автор: Цыбуля Л.М., Ширшова Е.Е.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-4263-1058-2
Издательство: Ай Пи Ар Медиа
Автор: Лукашенко В.И.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-4497-1378-0
Издательство: Ай Пи Ар Медиа
Автор: Серебряков О.И., Ушивцева Л.Ф., Серебряков А.О.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-4497-1430-5
Издательство: Дашков и К
Автор: Сысоев А.С., Ляпин С.А., Галкин А.В., Ризаева Ю.Н., Кадасев Д.А., Хабибуллина Е.Л.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-394-04747-3
Издательство: Ай Пи Ар Медиа
Автор: Орлов А.И.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-4497-1470-1
Издательство: Институт мировых цивилизаций
Автор: Шорохова С.П.
Год издания: 2022
ISBN: 978-5-907445-77-2
Издательство: Феникс
Автор: Мазилкина Е.И.
Год издания: 2012
ISBN: 978-5-222-18945-0
Издательство: ЭНАС
Автор: Кязимов К.Г., Гусев В.Е.
Год издания: 2011
ISBN: 978-5-4248-0003-0
Издательство: Проспект
Автор: Лупу А.А., Оськина И.Ю.
Год издания: 2011
ISBN:
