Физические основы современных методов исследования материалов. Учебное пособие
Об издании
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Библиографическая запись
Рогачев Е.А. Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е.А.. — Омск : Омский государственный технический университет, 2021. — 88 c. — ISBN 978-5-8149-3367-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/124891.html (дата обращения: 07.04.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Альжанова Э.Е.
(EDP Hub (Идипи Хаб), Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Туманов В.Е.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Новопашина Д.С., Кудряшова Н.В., Лавриненко В.А., Мызина С.Д.
(Новосибирский государственный университет)
Моренкова О.И., Голошубов А.Ю.
(Профобразование)
Назаров С.В., Белоусова С.Н., Бессонова И.А., Гиляревский Р.С., Гудыно Л.П., Егоров В.С., Исаев Д.В., Кириченко А.А., Кирсанов А.П., Кишкович Ю.П., Кравченко Т.К., Куприянов Д.В., Меликян А.В., Пятиб...
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Гущина Л.И., Епифанова Е.В., Ембулаева Н.Ю., Лепешкина О.В., Михайлик А.А., Недилько Ю.В., Павлисова Т.Е.
(Юридический центр Пресс)
Черкашин П.А.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)