Физические основы современных методов исследования материалов. Учебное пособие
Об издании
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Библиографическая запись
Рогачев Е.А. Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е.А.. — Омск : Омский государственный технический университет, 2021. — 88 c. — ISBN 978-5-8149-3367-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/124891.html (дата обращения: 10.06.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Альжанова Э.Е.
(EDP Hub (Идипи Хаб), Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Горяинов Д.С., Кургузов Ю.И., Носов Н.В.
(Профобразование)
Глебов В.В., Кангин М.В., Кангин Е.М., Щеглетов К.А., Кангин А.М.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Белов П.С., Драгина О.Г., Никифоров Д.Ю.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
