Физические основы современных методов исследования материалов. Учебное пособие
Об издании
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Библиографическая запись
Рогачев Е.А. Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е.А.. — Омск : Омский государственный технический университет, 2021. — 88 c. — ISBN 978-5-8149-3367-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/124891.html (дата обращения: 05.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Ческидова И.Б.
(Ай Пи Ар Медиа)
Малько А.В., Саломатин А.Ю., Гук П.А., Гуляков А.Д., Макеева Н.В., Петров Д.Е., Суменков С.Ю., Терехин В.А., Фомин А.А., Шишкин А.Д....
(Юридический центр Пресс)
Аверьянов А.П., Азаренко Л.Г., Вокин Г.Г., Кащеев Н.А., Мачнева Л.А., Чаплинский В.С.
(Инфра-Инженерия)
Соломенникова Е.А., Гурин В.В., Прищенко Е.А.
(Новосибирский государственный университет)
Красняков Н.И.
(Новосибирский государственный университет)
На конкретных примерах рассмотрим:
На конкретных примерах рассмотрим: