Физические основы современных методов исследования материалов. Учебное пособие
Об издании
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Библиографическая запись
Рогачев Е.А. Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е.А.. — Омск : Омский государственный технический университет, 2021. — 88 c. — ISBN 978-5-8149-3367-6. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/124891.html (дата обращения: 18.02.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Альжанова Э.Е.
(EDP Hub (Идипи Хаб), Ай Пи Ар Медиа)
Седова Н.А., Седов В.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Синицын С.В., Хлытчиев О.И.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Пятаева И.Н., Грищенко В.В.
(Новосибирский государственный технический университет)