Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов. Учебное пособие
Об издании
Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
Библиографическая запись
Пахаруков Ю.В. Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю.В., Шабиев Ф.К., Сафаргалиев Р.Ф.. — Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. — 98 c. — ISBN 978-5-9961-3051-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/133660.html (дата обращения: 09.04.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Попов Е.Б.
(Ай Пи Ар Медиа)
Данилин А.В., Слюсаренко А.И.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Хрусталёв В.А., Юрин В.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
Максимов Г.В., Василенко В.Н., Клименко А.И., Максимов А.Г., Ленкова Н.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Емельянова А.А., Огородникова О.А., Челнокова А.Ю., Шульгина Д.П., Ртищева Г.А., Щулепникова Е.И., Набокина М.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Кознов Д.В.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Ивановский М.А., Глазкова И.А.
(Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ)
Алексахин А.Н., Владыко И.Ю., Сибирская Е.В.
(Университет «Синергия»)
Мейер Б.
(Интернет-Университет Информационных Технологий (ИНТУИТ), Ай Пи Ар Медиа)
Перинский В.В., Перинская И.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Ловягин С.А.
(Московский педагогический государственный университет)
Болодурина И.П., Болдырев П.А., Рахматуллин Р.Р.
(Оренбургский государственный университет, ЭБС АСВ)
Перунов А.С., Ермаков В.А., Шувалов А.Н.
(МИСИ-МГСУ, ЭБС АСВ)