Сканирующие зондовые микроскопы. Справочник
Об издании
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим нано-устройства.
Библиографическая запись
Казаков, В. Д. Сканирующие зондовые микроскопы : справочник / В. Д. Казаков. — Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. — 108 c. — ISBN 978-5-9729-1731-0. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/143405.html (дата обращения: 21.09.2024). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П.Р., Борисевич А., Карунту Д., Карунту Г., Чишолм М.Ф., Кэмпбэлл Л.Э., Фрей М.Д., Пу Ксиан Га, Джианнуцци А.Л., Гупта Р., Джой Д., Ли Дж., Ли Ф., Лиу Дж., Лиу К....
(Лаборатория знаний)
Иванов Ю.А., Башков В.М., Шашурин В.Д., Федоркова Н.В.
(Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Дмитриев В.Г., Куприянов А.И., Перунов Ю.М.
(Инфра-Инженерия)
(Ай Пи Ар Медиа)
Аристова М.В., Егорова М.С.
(Санкт-Петербургский государственный архитектурно-строительный университет, ЭБС АСВ)
Нуралиев Н.А.
(Международный университет Кыргызстана)