Чтение online
Недоступно
Рейтинг издания
Поделиться:

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Издательство:
Лаборатория знаний
Авторы:
Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П.Р., Борисевич А., Карунту Д., Карунту Г., Чишолм М.Ф., Кэмпбэлл Л.Э., Фрей М.Д., Пу Ксиан Га, Джианнуцци А.Л., Гупта Р., Джой Д., Ли Дж., Ли Ф., Лиу Дж., Лиу К., Лупини А.Р., Питер Экс. Ма, Мейтланд Т., Нэйбити Дж., О’Коннор Ч.Дж., Оксли М.П., Пэнг Ю., Пенникук С., Ричард Сталлкап II, Ситцмэн С., К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, Варела М., Уанг П., Уанг К., Уанг Ж.Л., Уэй Г., Уайли Дж.Б., Жу У., Жу М.
Сведения об ответственности:
ред. Жу У., Уанга Ж.Л., Каминской Т.П., пер. Иванова С.А. и Домкина К.И.
Год издания:
2025
ISBN:
978-5-00101-142-2
Тип издания:
учебное пособие
DOI:

Об издании

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Библиографическая запись

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан [и др.] ; под редакцией У. Жу [и др.]. — 4-е изд. — Москва : Лаборатория знаний, 2025. — 599 c. — ISBN 978-5-00101-142-2. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/154862.html (дата обращения: 29.09.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

Этот сайт использует «cookies». Условия использования «cookies» см. в Пользовательском соглашении. Также сайт использует инструменты для сбора технических данных касательно посетителей с целью получения маркетинговой и статистической информации. Условия обработки данных посетителей сайта см. в Политике конфиденциальности. В случае несогласия с обработкой данных, просим покинуть сайт Принять условия