Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Учебное пособие

Об издании

Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества».

Библиографическая запись

Никитенков Н.Н. Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики : учебное пособие / Никитенков Н.Н.. — Томск : Томский политехнический университет, 2013. — 203 c. — ISBN 978-5-4387-0349-5. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/34691.html (дата обращения: 05.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей