Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум
Об издании
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций.
Библиографическая запись
Рабинович О.И. Основы технологии электронной компонентной базы : методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум / Рабинович О.И., Крутогин Д.Г.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 42 c. — ISBN 978-5-87623-710-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/56231.html (дата обращения: 28.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Алексеев Г.В., Искаков И.Ж., Кучеренко В.Я., Кузьмина Е.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Максимов Г.В., Василенко В.Н., Клименко А.И., Максимов А.Г., Ленкова Н.В.
(Профобразование, Ай Пи Ар Медиа)
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Булгакова С.В., Тренева Е.В., Курмаев Д.П., Косарева О.В., Шаронова Л.А., Долгих Ю.А.
(Ай Пи Ар Медиа)
Филимонова А.В.
(Волгоградский государственный социально-педагогический университет, «Перемена»)
Богатырёва Н.Ю.
(Московский педагогический государственный университет)