Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум
Об издании
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций.
Библиографическая запись
Рабинович О.И. Основы технологии электронной компонентной базы : методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум / Рабинович О.И., Крутогин Д.Г.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 42 c. — ISBN 978-5-87623-710-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/56231.html (дата обращения: 21.03.2026). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Альжанова Э.Е.
(EDP Hub (Идипи Хаб), Ай Пи Ар Медиа)
Воробьева О.М., Баранова Д.К., Левченко В.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Хрусталёв В.А., Юрин В.Е.
(Ай Пи Ар Медиа)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Носенко Д.И., Золотарёв А.П., Уймин А.Г., Дегтярев С.С., Ефименко Т.И., Морозов И.М., Шальнев В.В.
(Профобразование)
Иванков А.Н., Иванкова Л.Н.
(Профобразование)
Ляшенко Ю.М., Прудий А.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Голубев О.В.
(Уральский государственный университет путей сообщения)