Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум
Об издании
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций.
Библиографическая запись
Рабинович О.И. Основы технологии электронной компонентной базы : методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Лабораторный практикум / Рабинович О.И., Крутогин Д.Г.. — Москва : Издательский Дом МИСиС, 2013. — 42 c. — ISBN 978-5-87623-710-1. — Текст : электронный // Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : [сайт]. — URL: https://www.iprbookshop.ru/56231.html (дата обращения: 05.12.2025). — Режим доступа: для авторизир. пользователей
РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ
Алексеев Г.В., Искаков И.Ж., Кучеренко В.Я., Кузьмина Е.В.
(Ай Пи Ар Медиа)
Белова С.А., Давыдова Т.Е., Иванова Н.П., Лойко О.А., Тимофеева О.В., Фейзрахманова Н.М., Черноморец Т.В.
(Профобразование)
C ЭТОЙ КНИГОЙ ТАКЖЕ ЧИТАЮТ
Анисимов Ю.А., Грибунин В.Г., Кондаков С.Е., Мартынов А.П., Николаев Д.Б.
(Российский федеральный ядерный центр – ВНИИЭФ)
Синютин С.А., Леонова А.В.
(Издательство Южного федерального университета)
Алтухов П.Л., Ивашина М.М., Матушкин М.А., Нацыпаева Е.А., Сантович Е.А.
(Издательство Саратовской государственной юридической академии)
Одинец А.И., Четтер Д.М.
(Омский государственный технический университет)
Тагашева Р.Г., Сафиулина А.Г.
(Издательство КНИТУ)
На конкретных примерах рассмотрим:
На конкретных примерах рассмотрим: